越來(lái)越多的企業(yè)開始重視生產(chǎn)的過(guò)程及質(zhì)量控制?？捎捎谏a(chǎn)工藝及現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境等影響，容易造成薄膜表面出現(xiàn)黑點(diǎn)、晶點(diǎn)、麻點(diǎn)、破洞、線條、褶皺、蚊蟲、劃傷等瑕疵，不僅影響嚴(yán)重薄膜產(chǎn)品的外觀，更是給企業(yè)帶來(lái)經(jīng)濟(jì)損失。只有在生產(chǎn)過(guò)程中及時(shí)檢出薄膜表面的瑕疵缺陷，從生產(chǎn)的根源來(lái)消除瑕疵，控制和提高薄膜的表面質(zhì)量，才是*行之有效的辦法。

　　薄膜表面缺陷檢測(cè)儀就是用于檢測(cè)各類薄膜產(chǎn)品在生產(chǎn)過(guò)程中表面出現(xiàn)的污點(diǎn)、蚊蟲、孔洞、雜質(zhì)等常見缺陷,系統(tǒng)可以在生產(chǎn)過(guò)程中及時(shí)的發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品表面出現(xiàn)的疵點(diǎn)信息，實(shí)時(shí)反映生產(chǎn)線表面的缺陷信息，并進(jìn)行瑕疵分類處理，*取代人工肉眼進(jìn)行瑕疵檢測(cè)。大大的節(jié)省了生產(chǎn)成本，提高了生產(chǎn)效率，保證了薄膜的質(zhì)量。
 

　　PNTOO薄膜表面缺陷檢測(cè)儀系統(tǒng)的原理：

　　針對(duì)透光率高的薄膜材料，系統(tǒng)采用透射的打光檢測(cè)方式進(jìn)行檢測(cè)，即光源在薄膜的下方，相機(jī)在薄膜的上方進(jìn)行圖像拍攝（對(duì)于不透明的材料則采用反射的打光方式，即光源與相機(jī)在所要檢測(cè)面的同一側(cè)）。產(chǎn)線運(yùn)行時(shí)，系統(tǒng)通過(guò)編碼器實(shí)時(shí)的采集產(chǎn)線運(yùn)行狀態(tài)信息并開始檢測(cè)，系統(tǒng)將相機(jī)采集到的圖像通過(guò)圖像分析軟件進(jìn)行瑕疵處理，由于瑕疵與正常產(chǎn)品的圖像在灰階上存在明顯差異，從而使得系統(tǒng)能夠發(fā)現(xiàn)瑕疵，并通過(guò)進(jìn)一步的計(jì)算、分析來(lái)確定瑕疵的大小、位置、類型等信息。